常用光纖測試表有：光功率計、穩(wěn)定光源、光萬用表、光時域反射儀和光故障定位儀。

光功率計:用于測量絕對光功率或通過一段光纖的光功率相對損耗。在光纖系統中，測量光功率是最基本的。非常像電子學中的萬用表，在光纖測量中，光功率計是重負荷常用表，光纖技術人員應該人手一個。通過測量發(fā)射端機或光網絡的絕對功率，一臺光功率計就能夠*價光端設備的性能。用光功率計與穩(wěn)定光源組合使用，則能夠測量連接損耗、檢驗連續(xù)性，并幫助*估光纖鏈路傳輸質量。

穩(wěn)定光源:對光系統發(fā)射已知功率和波長的光。穩(wěn)定光源與光功率計結合在一起，可以測量光纖系統的光損耗。對現成的光纖系統，通常也可把系統的發(fā)射端機當作穩(wěn)定光源。如果端機無法工作或沒有端機，則需要單獨的穩(wěn)定光源。穩(wěn)定光源的波長應與系統端機的波長盡可能一致。在系統安裝完畢后，經常需要測量端到端損耗，以便確定連接損耗是否滿足設計要求，如：測量連接器、接續(xù)點的損耗以及光纖本體損耗。

光萬用表:用來測量光纖鏈路的光功率損耗。有以下兩種光萬用表：

1、由獨立的光功率計和穩(wěn)定光源組成。

2、光功率計和穩(wěn)定光源結合為一體的集成測試系統。

在短距離局域網中，端點距離在步行或談話之內，技術人員可在任意一端成功地使用經濟性組合光萬用表，一端使用穩(wěn)定光源另一端使用光功率計。對長途網絡系統，技術人員應該在每端裝備完整的組合或集成光萬用表。

當選擇儀表時，溫度或許是最嚴格的標準?，F場便攜式設備應在-18℃至50℃

光時域反射儀及故障定位儀:表現為光纖損耗與距離的函數。借助于otdr，技術人員能夠看到整個系統輪廓，識別并測量光纖的跨度、接續(xù)點和連接頭。在診斷光纖故障的儀表中，otdr是最經典的，也是最昂貴的儀表。與光功率計和光萬用表的兩端測試不同，otdr僅通過光纖的一端就可測得光纖損耗。otdr軌跡線給出系統衰減值的位置和大小，如：任何連接器、接續(xù)點、光纖異形、或光纖斷點的位置及其損耗大小。

otdr可被用于以下三個方面：

1、在敷設前了解光纜的特性。

2、得到一段光纖的信號軌跡線波形。

3、在問題增加和連接狀況每況愈下時，定位嚴重故障點。

故障定位儀是otdr的一個特殊版本，故障定位儀可以自動發(fā)現光纖故障所在，而不需otdr的復雜操作步驟，其價格也只是otdr的幾分之一。

選擇光纖測試儀表，一般需考慮以下四個方面的因素：即確定你的系統參數、工作環(huán)境、比較性能要素、儀表的維護

工作波長三個主要的傳輸窗口為850nm，1300nm及1550nm。

光源種類：在短距離應用中，由于經濟實用的原因，大多數低速局域網lan(100mbs使用激光光源長距離傳輸信號。

光纖種類以及芯/涂覆層直徑：標準單模光纖為9/125um，盡管某些其它特殊單模光纖應該仔細辨認。典型的多模光纖包括50/125、62.5/125、100/140和200/230um。

連接器種類：國內常見的連接器包括：fc-pc，fc-apc，sc-pc，sc-apc，st等。最新的連接器則有：lc，mu，mt-rj等

損耗估算/系統的容限。

對用戶/購買者來講，選擇一臺野外現場用儀表，溫度標準或許是最嚴格的。通常，野外現場測量必須在嚴峻的環(huán)境中使用，推薦現場便攜式儀表的工作溫度應該從-18℃~50℃，同時儲運溫度為-40~+60℃。實驗室的儀器僅需在較窄的控制范圍5~50℃工作。

不像實驗室儀表能夠采用交流供電，現場便攜式儀表對儀表電源通常要求較為苛刻，否則會影響工作效率。另外，儀器的電源供電問題還經常是引起儀器故障或損壞的一個重要誘因。因此，用戶應該考慮和權衡如下因素：

1、內裝電池的位置應便于用戶更換。

2、新電池或滿充電池的最少工作時間要達到10小時。然而電池工作壽命的目標值應在40~50小時以上，以確保技術人員和儀器的最佳工作效率。

3、使用電池的型號越普通越好，如通用9v或1.5v五號干電池等，因為這些通用電池非常容易就地找到或購得。

4、普通干電池優(yōu)于可充電電池，因為充電電池大多存在“記憶”問題、包裝不標準、不容易買到、環(huán)保問題等。

以前，要找到符合上述所有四個標準的便攜式測試儀器幾乎是不可能的?，F在，采用最現代cmos電路制造技術的藝術化光功率計，僅用一般五號干電池，即可工作100小時以上。另外一些實驗室型號提供雙電源以增加其適應性。

如同手提電話一樣，光纖測試儀表同樣具有眾多的外觀包裝形式。低于1.5公斤的手持式表一般沒有許多虛飾，只提供基本功能和性能;半便攜式儀表通常具備更復雜的或擴展的功能;實驗室儀器是專為控制實驗室/生產場合設計的，具備ac供電。

比較性能要素：這里是選擇步驟的第三步，包括每種光測試設備的詳細分析。